822微机原理与测试技术：包括微机原理、测试技术、光电技术三部分，主要内容：1、微机原理：微型计算机概述；8086微处理器的结构、系统组成和总线时序；指令格式与寻址方式，8086指令系统，8086与Pentium扩充和增加的指令；汇编语言程序格式与设计、数据与表达式，伪指令，宏命令伪指令，汇编语言与C语言的接口；输入输出接口，存储器；8086的中断系统，可编程中断控制器，中断调用；计数器/定时器与DMA控制器，并行接口与串行接口，总线，模拟量输入/输出通道接口，人机交互设备及其接口2、检测与测试技术；检测的基本概念；测试系统的组成，数学模型及频率特性，瞬态激励的响应，频率特性的测定，测量不确定度；周期信号、非周期信号及其描述，随机信号，离散傅里叶变换，短时傅里叶变换，小波变换，Hilbert Huang变换与经验模态分解；电学与磁学量测量；长度及线位移测量；角度及角位移测量；速度、转速、加速度、力、力矩、压力、温度、流量、环境量的测量；机械振动的测试。3、光电技术：光学成像基本性质，高斯光学原理；光线追迹方法进行光路分析；典型光学系统，放大镜、显微镜、望远镜；光波动理论，光波迭加、干涉、衍射、偏振。光电特性，半导体材料对光吸收规律、光电导效应、光生伏特效应、光电发射效应；光电检测器件原理及应用，光电导器件、光生伏特器件、热电探测器件、光电发射器件。